끠
电话:15071237845
15071237845
首页
产品中心
精密测试仪表
示波器
数字源表
电源
极低温系统
闭循环低温探针台
开循环低温探针台
低温磁场探针台
低温恒温器
低温传感器
探针台
手动探针台
桌面微型探针台
半自动探针台
全自动探针台
失效分析设备
X射线检测机(X-ray)
微光分析显微镜(EMMI&OBICH)
扫描电子显微镜(SEM)
聚焦离子束显微镜(FIB)
台阶仪&形貌测量仪
先进封装的失效分析(TDR)
基础教学设备
物理实验室
光学实验室
通信实验室
电气实验室
附件
定制样品杆
探针&针座
线缆&转接头
解决方案
功率/半导体器件测试方案
高频器件阻抗测试方案
ESD&TLP静电抗电测试系统
MEMS器件测试方案
服务与支持
样品申请&维修服务
关于我们
公司简介
联系我们
首页
产品中心
精密测试仪表
示波器
数字源表
电源
极低温系统
闭循环低温探针台
开循环低温探针台
低温磁场探针台
低温恒温器
低温传感器
探针台
手动探针台
桌面微型探针台
半自动探针台
全自动探针台
失效分析设备
X射线检测机(X-ray)
微光分析显微镜(EMMI&OBICH)
扫描电子显微镜(SEM)
聚焦离子束显微镜(FIB)
台阶仪&形貌测量仪
先进封装的失效分析(TDR)
基础教学设备
物理实验室
光学实验室
通信实验室
电气实验室
附件
定制样品杆
探针&针座
线缆&转接头
解决方案
功率/半导体器件测试方案
高频器件阻抗测试方案
ESD&TLP静电抗电测试系统
MEMS器件测试方案
服务与支持
样品申请&维修服务
关于我们
公司简介
联系我们
ꁸ
回到顶部
ꂅ
15071237845
ꁗ
QQ客服
ꀥ
微信二维码
넳
넲
产品中心
/
PRODUCTS
ꄶ
产品中心
ꁇ
探针台
手动探针台
桌面微型探针台
半自动探针台
全自动探针台
ꁇ
失效分析设备
X射线检测机(X-ray)
微光分析显微镜(EMMI&OBICH)
扫描电子显微镜(SEM)
聚焦离子束显微镜(FIB)
台阶仪&形貌测量仪
先进封装的失效分析(TDR)
ꁇ
基础教学设备
物理实验室
通信实验室
电气实验室
光学实验室
ꁇ
附件
探针&针座
线缆&转接头
ꁇ
极低温系统
闭循环低温探针台
开循环低温探针台
低温磁场探针台
低温恒温器
低温传感器
ꁇ
精密测试仪表
示波器
数字源表
电源
ꄶ
解决方案
ESD&TLP静电抗电测试系统
MEMS器件测试方案
高频器件阻抗测试方案
功率/半导体器件测试方案
服务与支持
关于我们
先进封装的失效分析
由于电子设备的小型化与高密度集成结构技术发展,在半导体封装的故障分析上对应各种各样的分析条件和优化分析环境的系统的需求越来越多。TS9001TDR系统通过利用短脉冲信号处理技术的高分辨率的TDR测量(时域反射测量),高速高精度的无损分析,检测出先进半导体封装内的布线故障定位。
另外,我们的TS9001系统可与客户所持有/选定的高频探针系统连接,为测试体形状(晶圆,IC)和故障分析环境提供灵活的解决方案。
¥ 0.00
立即购买
本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持
IPv6
本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持
IPv6
本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持
IPv6
本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持
IPv6