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台阶仪

KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能基板、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET200A 能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
ET200A 配备了各种型号探针,提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD 原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。
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产品详情

参数:

  • 样品台:
  1. 样品台尺寸:φ160mm
  2. 最大工件尺寸:φ200mm
  3. 最大工件厚度:52mm
  4. 最大工件重量:2kg
  5. 倾斜调整范围:±2°(±5mm/160mm)
  6. 样品台材质:黑色硬质铝
  7. 手动旋转:360°(手动粗调)±5°(微调,最小约0.5°)
  • 传感器(pick up):
  1. 原理:直动式传感器 (业界唯一)
  2. Z方向测定范围:Max. 600µm
  3. Z方向最小分辨率:0.025nm (2,000,000放大倍率时)
  4. 测定力: 10uN ~500uN
  5. 触针半径:2 µm 60° 钻石针头 (另有多种可选)
  6. 驱动方式:直动式
  7. 再现性:1σ= 0.2nm (1um以下台阶时)三、X (基准轴/测量轴)
  1. 移动量(最大测长)100mm (±50mm)
  2. 真直度:0.2µm/100mm(全量程)5nm/5mm (局部)
  3. 移动,测定速度:0.005~20mm/s
  4. 线性尺(linar scale)X方向分辨率 0.1µm
  5. 位置重复误差:±5um
  • Z轴:
  1. 移动量:54mm
  2. 移动速度:max.2.0mm/S
  3. 检出器自动停止机能
  • Y轴:(手动定位用)

1. 移动量:25mm±12.5mm

  • 工件观察:
  1. 彩色1/3”CCDx4物镜倍率
  2. 综合倍率:约320(使用19” monitor)
  3. 视野:1.2*0.9mm
  4. 观察方向:右侧斜视
  5. 照明:白色LED(可使用软件调整明暗度)
  • 软件功能简介:
  1. 型号:i-STAR31
  2. 可设定测量条件菜单、重复测量设定、解析菜单
  3. 可设定下针座标,实现定位后自动测量及解析功能
  4. 可设定低通滤波,过滤噪音及杂讯
  5. 具有返回测量启始点功能
  6. 显示倍率:垂直方向50~2,000,000倍、纵方向1~10,000
  7. 解析功能:主要图型、段差解析、粗糙度解析、内应力分析、内建多种段差解析菜单可选
  • 床台:一体花岗岩
  • 防振台(选购):落地型或桌上型
  • 电源:AC220V±10%50/60HZ300VA
  • 本体外观尺寸及重量:

W500×D440×H610mm, 120kg,一体花岗岩低重心结构

(不含防震台)