

-
首页
-
产品中心
- 精密测试仪表
- 示波器
- 数字源表
- 电源
- 极低温系统
- 闭循环低温探针台
- 开循环低温探针台
- 低温磁场探针台
- 低温恒温器
- 低温传感器
- 探针台
- 手动探针台
- 桌面微型探针台
- 半自动探针台
- 全自动探针台
- 失效分析设备
- X射线检测机(X-ray)
- 微光分析显微镜(EMMI&OBICH)
- 扫描电子显微镜(SEM)
- 聚焦离子束显微镜(FIB)
- 台阶仪&形貌测量仪
- 先进封装的失效分析(TDR)
- 基础教学设备
- 物理实验室
- 光学实验室
- 通信实验室
- 电气实验室
- 附件
- 定制样品杆
- 探针&针座
- 线缆&转接头
-
解决方案
- 功率/半导体器件测试方案
- 高频器件阻抗测试方案
- ESD&TLP静电抗电测试系统
- MEMS器件测试方案
-
服务与支持
- 样品申请&维修服务
-
关于我们
- 公司简介
- 联系我们


-
首页
-
产品中心
- 精密测试仪表
- 示波器
- 数字源表
- 电源
- 极低温系统
- 闭循环低温探针台
- 开循环低温探针台
- 低温磁场探针台
- 低温恒温器
- 低温传感器
- 探针台
- 手动探针台
- 桌面微型探针台
- 半自动探针台
- 全自动探针台
- 失效分析设备
- X射线检测机(X-ray)
- 微光分析显微镜(EMMI&OBICH)
- 扫描电子显微镜(SEM)
- 聚焦离子束显微镜(FIB)
- 台阶仪&形貌测量仪
- 先进封装的失效分析(TDR)
- 基础教学设备
- 物理实验室
- 光学实验室
- 通信实验室
- 电气实验室
- 附件
- 定制样品杆
- 探针&针座
- 线缆&转接头
-
解决方案
- 功率/半导体器件测试方案
- 高频器件阻抗测试方案
- ESD&TLP静电抗电测试系统
- MEMS器件测试方案
-
服务与支持
- 样品申请&维修服务
-
关于我们
- 公司简介
- 联系我们
-
ꁸ 回到顶部
-
ꂅ 15071237845
-
ꁗ QQ客服
-
ꀥ 微信二维码
产品详情
参数:
- 样品台:
- 样品台尺寸:φ160mm
- 最大工件尺寸:φ200mm
- 最大工件厚度:52mm
- 最大工件重量:2kg
- 倾斜调整范围:±2°(±5mm/160mm)
- 样品台材质:黑色硬质铝
- 手动旋转:360°(手动粗调)、±5°(微调,最小约0.5°)
- 传感器(pick up):
- 原理:直动式传感器 (业界唯一)
- Z方向测定范围:Max. 600µm
- Z方向最小分辨率:0.025nm (2,000,000放大倍率时)
- 测定力: 10uN ~500uN
- 触针半径:2 µm 60° 钻石针头 (另有多种可选)
- 驱动方式:直动式
- 再现性:1σ= 0.2nm (1um以下台阶时)三、X 轴 (基准轴/测量轴):
- 移动量(最大测长):100mm (±50mm)
- 真直度:0.2µm/100mm(全量程),5nm/5mm (局部)
- 移动,测定速度:0.005~20mm/s
- 线性尺(linar scale):X方向分辨率 0.1µm
- 位置重复误差:±5um
- Z轴:
- 移动量:54mm
- 移动速度:max.2.0mm/S
- 检出器自动停止机能
- Y轴:(手动定位用)
1. 移动量:25mm(±12.5mm)
- 工件观察:
- 彩色1/3”CCD,x4物镜倍率
- 综合倍率:约320倍 (使用19” monitor时)
- 视野:1.2*0.9mm
- 观察方向:右侧斜视
- 照明:白色LED(可使用软件调整明暗度)
- 软件功能简介:
- 型号:i-STAR31
- 可设定测量条件菜单、重复测量设定、解析菜单
- 可设定下针座标,实现定位后自动测量及解析功能
- 可设定低通滤波,过滤噪音及杂讯
- 具有返回测量启始点功能
- 显示倍率:垂直方向50~2,000,000倍、纵方向1~10,000倍
- 解析功能:主要图型、段差解析、粗糙度解析、内应力分析、内建多种段差解析菜单可选
- 床台:一体花岗岩
- 防振台(选购):落地型或桌上型
- 电源:AC220V±10%,50/60HZ,300VA
- 本体外观尺寸及重量:
W500×D440×H610mm, 120kg,一体花岗岩低重心结构
(不含防震台)
产品中心
——
解决方案
——
服务与支持
——
关于我们
——
联系我们
——