-
首页
-
产品中心
- 精密测试仪表
- 示波器
- 数字源表
- 电源
- 极低温系统
- 闭循环低温探针台
- 开循环低温探针台
- 低温磁场探针台
- 低温恒温器
- 低温传感器
- 探针台
- 手动探针台
- 桌面微型探针台
- 半自动探针台
- 全自动探针台
- 失效分析设备
- X射线检测机(X-ray)
- 微光分析显微镜(EMMI&OBICH)
- 扫描电子显微镜(SEM)
- 聚焦离子束显微镜(FIB)
- 台阶仪&形貌测量仪
- 先进封装的失效分析(TDR)
- 基础教学设备
- 物理实验室
- 光学实验室
- 通信实验室
- 电气实验室
- 附件
- 定制样品杆
- 探针&针座
- 线缆&转接头
-
解决方案
- 功率/半导体器件测试方案
- 高频器件阻抗测试方案
- ESD&TLP静电抗电测试系统
- MEMS器件测试方案
-
服务与支持
- 样品申请&维修服务
-
关于我们
- 公司简介
- 联系我们
-
首页
-
产品中心
- 精密测试仪表
- 示波器
- 数字源表
- 电源
- 极低温系统
- 闭循环低温探针台
- 开循环低温探针台
- 低温磁场探针台
- 低温恒温器
- 低温传感器
- 探针台
- 手动探针台
- 桌面微型探针台
- 半自动探针台
- 全自动探针台
- 失效分析设备
- X射线检测机(X-ray)
- 微光分析显微镜(EMMI&OBICH)
- 扫描电子显微镜(SEM)
- 聚焦离子束显微镜(FIB)
- 台阶仪&形貌测量仪
- 先进封装的失效分析(TDR)
- 基础教学设备
- 物理实验室
- 光学实验室
- 通信实验室
- 电气实验室
- 附件
- 定制样品杆
- 探针&针座
- 线缆&转接头
-
解决方案
- 功率/半导体器件测试方案
- 高频器件阻抗测试方案
- ESD&TLP静电抗电测试系统
- MEMS器件测试方案
-
服务与支持
- 样品申请&维修服务
-
关于我们
- 公司简介
- 联系我们
-
ꁸ 回到顶部
-
ꂅ 15071237845
-
ꁗ QQ客服
-
ꀥ 微信二维码
产品详情
参数：
推荐激励电流：10uA
推荐激励耗散：1.93x10^-7W@4.2K
重复性：±15mk@4.2K
40K以上，不适合作为温度计特性使用
受磁场影响小，低磁场误差
传感器不可超过室温以上温度使用，超温使用会引起精度偏移
传感器受应力影响较大，注意安装时不能有过大应力
图表5-1.RUO2的典型R-T关系
以上特征和参数仅作参考。使用过程中，受工况、连接方式和安装应力等影响，实际精度须考虑
产品中心
——
解决方案
——
服务与支持
——
关于我们
——
联系我们
——
